本检定系统适用于射（高）频集总参数阻抗计量器具（即检测20khz-1ghz频段的r，l，c元件和材料电磁特性所有物仪器设备和量具、标准件），规定了射频（习惯上也称高频）集总参数阻抗量的量值溯源途径、传递程序及计量器具的检定方法。
hp高频阻抗分析仪 产品详情
1、高频集总参数阻抗的国家计量基准器具是指用于复现和保存20khz-1000ghz高频阻抗量值（包括电介质材料的复数介电常数和软磁材料的复数导磁率）的计量设备和量具。
2、射（高）频集总参数阻抗计量基准器具包括:
2.1空气介质同轴线阻抗基准，其阻抗量值由同轴线尺寸和材料电磁特性经理论计算求得。它用以校准按反射系数测量原理设计的高频阻抗精密测量装置。空气介质同轴线也是微波阻抗国家基准，本检定系统移用它，有利于射（高）频、微波阻抗量值的统一。在（1-1000）mhz频段，其技术指标为:
反射系数模值:1.0000.002；相角:1800.5。
2.2高频阻高频阻抗精密测量装置，它是利用从美国引进的hp4191a高频阻抗分析仪，经过准确度论证分析，保证高频集总参数阻抗量的以下计量工作性能:
频率:（1-1000）mhz
反射系数模值:1.000(0.003-0.007)
相角:1800.5；
阻抗模值z:1-10k（0.5-10）％
电容c:10pf-100nf(0.2-10)％；
电感l:10nh-100h（0.2-10）％
损耗:tg（d）0.001-0.5(0.002-0.05)